光耦測試指南(NV)

日期:2021-08-19 11:53
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摘要:光耦測試介紹 1. 應用場景: 光電耦合器工作是否正常 2.測試方法: 常用做法:ICT + FCT PTI設備:PTI-816S 在線測試儀(ICT) 3. 測試模式:NV 電壓范圍:0~9.9V 測試文檔建立 1. 新建測試程序 2. 進入元器件編輯 3. 添加測試步驟 4. 設定方法 標準值:管理基準(PIN3,4) 實際值:1,2之間輸出電壓 +/- %:標準值的 上下限范圍 模 式:NV 高點(PIN 3):NV模式,系統固定輸出...
光耦測試介紹

1. 應用場景: 光電耦合器工作是否正常

2.測試方法:
常用做法:ICT + FCT

PTI設備:PTI-816S 在線測試儀(ICT)

3. 測試模式:NV
電壓范圍:0~9.9V


測試文檔建立
1. 新建測試程序

2. 進入元器件編輯

3. 添加測試步驟


4. 設定方法

標準值:管理基準(PIN3,4)
實際值:1,2之間輸出電壓
+/- %:標準值的 上下限范圍
模 式:NV
高點(PIN 3):NV模式,系統固定輸出4V
低點(PIN 4):GND
G1(PIN 2):GND
G2(PIN 1):輸入電壓
測試值:實際讀取數據(PIN3,PIN4)


案例演示
1. 硬件說明

測試數據:

分析結果

SN.

PIN

測試結果

1

OK

PASS

2

PIN3 OPEN

FAIL

3

PIN4 OPEN

FAIL

4

PIN1 OPEN

FAIL

5

PIN2 OPEN

FAIL

結論:通過上述對比,光藕合格可以檢測出

粵公網安備 44030602001522號

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