ICT測試出來的不佳維修

日期:2021-08-19 00:14
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摘要: 1.ICT不佳的類型主要有以下幾種(以HIBEX MERCURY型ICT為例): ·SHORT FAIL 短路不佳,本應該短路的,實質上開路 ·OPEN FAIL 開路不佳,本應該開路的,實質上短路 ·HIGA FAIL 測試值遠遠的高于設定值的誤差范圍 ·LOW FAIL 測試值遠遠的低于設定值的誤差范圍 ·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預先設置的類型不相同 ·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進測試程序中 ·POL FAIL 被測試的元器件的極性(電容除外)插反 ·OPEN FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試針短路,本來...
 1.ICT不佳的類型主要有以下幾種(以HIBEX MERCURYICT為例):

·SHORT FAIL 短路不佳,本應該短路的,實質上開路

·OPEN FAIL 開路不佳,本應該開路的,實質上短路

·HIGA FAIL 測試值遠遠的高于設定值的誤差范圍

·LOW FAIL 測試值遠遠的低于設定值的誤差范圍

·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預先設置的類型不相同

·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進測試程序中

·POL FAIL 被測試的元器件的極性(電容除外)插反

·OPEN FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試針短路,本來應該是開路的

·SHORT FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試PIN開路,本來應該是短路的

 

2.總體來說,ICT不佳的維修,基本上都是從以下幾點進行:

·部品本身有誤配或不佳的情況發生

·ICT PINBOARD本身針點上有異物

·ICT PINBOARD 本身有針不佳

·PCB上的測試點無焊錫

·PCB上的測試點有異物

·PCB上的測試儀點光澤度看上去比較差,表面測試點上松香過多

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