ict上IC的測試

日期:2021-08-19 18:26
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摘要:

ICT上IC的測試:
1
開短路測試法

  測試IC各腳的開短路來測試我出不佳

2,保護二極體測試法

  每個IC都對地和電源有一個反向二極體,通過測試此反向二極體來測試IC的缺件,空焊,反插等不佳現像

3,HP TESTJET量測法(ivetp)

HP TestJetTechnology 是量測感測應器與IC 腳框之間的電容量來偵測IC 接腳的空焊。

1) 由于采用ReedRelay ScannerBoard,Guarding 能力強,因此測試效果好。

 

2) 由于干擾處理能力強,因此對SMD

    Type Connector的量測相當可靠

3) 其對IC的可測率達到95%以上

4 ISSCAN功能測試

 此技術是我公司磚利技術,測試并聊IC的開短.

5功能測試還支持

 1)穩壓管的穩壓值測試

 2)LED的測試

 3)電機馬達的測試
ict上IC的測試

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